Perito criminal - Área 16: Física Forense - 2025
Acerca dos exames em balística forense, julgue o item que se segue.
No exame de confronto balístico, para a caracterização dos elementos de munição na análise macroscópica, devem-se inspecionar e avaliar as características morfológicas do material, classificando-o em um dos três grupos principais: projéteis, estojos e cartuchos.
Acerca dos exames em balística forense, julgue o item que se segue.
O ramo ascendente de uma trajetória é sempre mais curvo e menos extenso do que o descendente.
Julgue o próximo item, relativos ao Sistema Nacional de Análise Balística (SINAB).
Somente peritos criminais e técnicos ou auxiliares devidamente treinados para trabalhar no laboratório de balística forense poderão operar os equipamentos que permitem acesso aos registros do SINAB.
Julgue o próximo item, relativos ao Sistema Nacional de Análise Balística (SINAB). Segundo o manual de procedimentos do SINAB, uma das categorias de itens para inserção no Banco Nacional de Perfis Balísticos é o projétil padrão ou estojo padrão de arma de fogo com adulteração de número de série ou de regime de tiro.
Julgue o próximo item, relativos ao Sistema Nacional de Análise Balística (SINAB).
O Banco Nacional de Perfis Balísticos tem como objetivo subsidiar ações destinadas a apurações criminais federais, estaduais, distritais e municipais por meio de cadastramento de dados e registros balísticos de elementos de munição deflagrados por armas de fogo relacionadas a crime.
No que diz respeito à microscopia eletrônica de varredura, julgue o item a seguir. Elétrons secundários são tipicamente mais energéticos que elétrons retroespalhados e, por isso, produzem imagens com menor resolução.
No que diz respeito à microscopia eletrônica de varredura, julgue o item a seguir.
Quanto menor for o número atômico do material, maior será a distância de penetração de elétrons do feixe primário nesse material.
No que diz respeito à microscopia eletrônica de varredura, julgue o item a seguir.
Amostras com superfícies dielétricas favorecem a resolução da imagem final.
No que diz respeito à microscopia eletrônica de varredura, julgue o item a seguir.
A detecção de raios X pode ser utilizada para a determinação da composição do material.
No que diz respeito à microscopia eletrônica de varredura, julgue o item a seguir.
Os elétrons utilizados para criar o feixe de varredura para formação da imagem são tipicamente obtidos por meio de um material aquecido que gera a emissão termiônica de elétrons ou pela utilização de emissão de campo.